Hochwertige Oberflächenverarbeitung für nahezu jedes Material
Das Dreifach-Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X ermöglicht das Erstellen von Querschnitten und planen Oberflächen für die Rasterelektronenmikroskopie (Scanning Electron Microscopy - SEM), Mikrostrukturanalyse (EDS, WDS, Auger, EBSD) und AFM-Untersuchungen. Mit dem Leica EM TIC 3X produzieren Sie bei Raumtemperatur oder bei gefrorenen Proben aus fast jedem Material hochwertige Oberflächen, sodass die inneren Strukturen weitestgehend im ursprünglichen Zustand erhalten bleiben.
Modell: Leica EM TIC 3X
Dynamische Differenzkalorimetrie mittels schneller Chipkalorimetrie
Das Flash DSC 1 revolutioniert das DSC-Verfahren. Es ermöglicht die Analyse bisla...
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Bei dem "Micro RAMAN" handelt es sich um eine Kombination aus RAMAN-Spektrometer und einem Mikroskop zur Transmissions- und Reflexionsmessung.
Die A...
Das modulare Auflichtmikroskop H 600 ist mit seiner starken Kaltlichtquelle bestens für den Einsatz in der Materialprüfung und zur Untersuchung versch...
Der Hintergrund einer Filtermembran ist durch das Maximum des Helligkeitshistogramms definiert. Die JOMESA Lichtkontrolle regelt die Lichtintensität b...
Das inverse biologische Labormikroskop – auch mit Fluoreszenz
- Die OCM-Serie zeichnet sich durch ihr ergonomisches, robustes und extra standfestes D...
Eine Serie von flexiblen, modularen, aufrechten Mikroskopen für verschiedene episkopische optische Kontrastverfahren (BF-DF-DIC-POL-Fluoreszenz-Interf...
Mikroskope sind in vielen Berufsfeldern wichtige Arbeitsinstrumente. Ein hochwertiges Mikroskop muss auf dem neusten Stand der Technik sein und seinem...
Für die Auflicht- und Durchlichtmikroskopie in Materialforschungsinstituten, in der Stahlerzeugenden Industrie, in der Elektro-, Kunststoff- und Keram...
DE-97280 Remlingen
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